EMC-100 EMI 實驗系統
本實驗設備之特⾊分為兩部分：⼀為具有⼀部可量測電磁⼲擾 (EMI) 之功能的儀器，可量測傳導性電磁⼲擾與輻射性電磁⼲擾，並可當作產品送檢前電磁⼲擾量測應證系統，可對產品做電磁⼲擾預先評估與解決電磁⼲擾。⼆為學習電磁⼲擾之基礎概念與抑制對策之訓練器。提供初學者以電磁相容 (EMC) ⼯程師的⾓⾊上來學習電磁⼲擾相關理論、量測及抑制技術。
產品特色
軟硬體特色
硬體：
量測儀器內建電源阻抗模擬網路及頻譜分析儀，能做為產品對電磁⼲擾送檢前初步檢測儀器。
軟體：
- 專業實驗室標準量測，具備強⼤分析功能。
- 量測軟體提供⼀次掃描頻率軸顯⽰，可選擇對數 (LOG) 或線性 (LIN) 模式，範圍涵蓋 9KHz~30MHz。
- ⽀援符合 CISPR 16-1 標準的峰值 (PK)、準峰值 (QP)、平均值 (Ave) 量測。
- 頻譜分析儀模式，峰值 (PK) 量測具備快速掃描功能，讓使⽤者可對產品的電磁⼲擾進⾏初步檢查和分析。
- 檢測值可由使⽤者⾃⾏定義，並可透過 PC 模式達成無限量數據儲存。
抑制元件特⾊
- 學習電磁⼲擾和抑制對策。提供超過 50 個抑制元件。此外，⼿冊中還介紹了數百種抑制實驗模式。
- 抑制元件由專⾨從事電磁相容性整合且經驗豐富的⼯程師開發，使⽤者可以輕鬆學習如何使⽤不同的抑制元件來抑制電磁⼲擾。
- 抑制元件具有防呆功能且易於維護和更換。
- 透明外殼設計，可清晰查看抑制元件。
本實驗設備含量測儀器及實驗模組，提供電磁⼲擾之傳導與輻射實驗課程。
產品規格
實驗項目
- 傳導性電磁⼲擾之波形來源
- 傳導性電磁⼲擾之電源濾波實驗
- 傳導性電磁⼲擾之接地實驗
• 濾波元件地未與電源地相連實驗
• ⼆次側地和電源接地實驗 - 傳導性電磁⼲擾之最佳化實驗
- 輻射性電磁⼲擾之波形來源
- 輻射性電磁⼲擾之抑制元件實驗
- 輻射性電磁⼲擾之接地實驗
• 鋪銅未接地實驗
• 濾波抑制元件接地實驗 - 輻射性電磁⼲擾之屏蔽實驗
• 屏蔽實驗
• 屏蔽接地實驗 - 輻射性電磁⼲擾之最佳化實驗